Analyse af årsager til langvarig brug og ældning af glimmerbræt

I processen med at bruge eller opbevare glimmerbræt vil dets funktion blive irreversibelt forringet over tid. Pålideligheden af glimmerbrættets drift afhænger i høj grad af isoleringsdataens ældningskarakteristika. Ifølge statistikken

I processen med at bruge eller opbevare FR4 -kort vil dens funktion blive irreversibelt forringet over tid.

Pålideligheden af glimmerbrættets drift afhænger i høj grad af isoleringsdataens ældningskarakteristika.

Ifølge statistik har fejlfrekvensen for elektrisk udstyr et betydeligt forhold til brugstiden for isoleringsdata, og denne korrelationskurve kaldes en slotkurve.

Tre områder i kurven:

1. Tidlige defektområder er normalt forårsaget af materialekvalitetsfejl eller efterfølgende fremstillingsprocesser;

2. Den tilfældige fejlzone er hovedsageligt forårsaget af unormale driftstilstande;

3. Defektområdet er forårsaget af ældning, og defekthastigheden stiger med tiden.