Análise das razões para o uso a longo prazo e envelhecimento da placa de mica

No processo de usar ou armazenar placa de mica, sua função será irreversivelmente degradada com o tempo. A confiabilidade da operação da placa de mica depende muito das características de envelhecimento dos dados de isolamento. De acordo com as estatísticas

No processo de uso ou armazenamento da placa FR4, sua função será irreversivelmente degradada com o tempo.

A confiabilidade da operação da placa de mica depende muito das características de envelhecimento dos dados de isolamento.

De acordo com as estatísticas, a taxa de falha de equipamentos elétricos tem uma relação significativa com o tempo de uso dos dados de isolamento, e essa curva de correlação é chamada de curva de slot.

Três áreas na curva:

1. As áreas com defeitos iniciais geralmente são causadas por defeitos de qualidade do material ou processos de fabricação subsequentes;

2. A zona de falha aleatória é causada principalmente por condições anormais de operação;

3. A área defeituosa é causada pelo envelhecimento e a taxa de defeitos aumenta com o passar do tempo.