Analyse des raisons de l’utilisation à long terme et du vieillissement du panneau de mica

Dans le processus d’utilisation ou de stockage de la carte mica, sa fonction sera irréversiblement dégradée au fil du temps. La fiabilité du fonctionnement de la carte mica dépend en grande partie des caractéristiques de vieillissement des données d’isolation. Selon les statistiques

Dans le processus d’utilisation ou de stockage de la carte FR4, sa fonction sera irréversiblement dégradée avec le temps.

La fiabilité du fonctionnement de la carte mica dépend en grande partie des caractéristiques de vieillissement des données d’isolation.

Selon les statistiques, le taux de défaillance des équipements électriques a une relation significative avec le temps d’utilisation des données d’isolation, et cette courbe de corrélation est appelée courbe de fente.

Trois zones de la courbe :

1. Les zones de défauts précoces sont généralement causées par des défauts de qualité des matériaux ou des processus de fabrication ultérieurs ;

2. La zone de défaillance aléatoire est principalement causée par des conditions anormales de fonctionnement ;

3. La zone défectueuse est causée par le vieillissement et le taux de défauts augmente avec le temps.