聚酰亞胺薄膜層的厚度與耐電暈性有什麼關係

聚酰亞胺薄膜的層間厚度與耐電暈性有關。這一點大家都知道，但具體的關係大家都不太清楚。在這裡，我們請到了專業廠家為我們解答，快來看看下面的詳細介紹吧。

聚酰亞胺薄膜

耐電暈測試是在五個不同厚度份額的三層複合聚酰亞胺薄膜和 Kapton 100 CR 薄膜上進行的。測試過程中，每張膜各取5個樣品進行相對獨立的實驗，也採用了Wilbur。數據處理的分佈函數法。得到54.8組三層複合膜的耐電暈時間分別為57.9h、107.3h、92.6h、82.9h、100h，可得到Kapton 48 CR膜的耐電暈時間。 XNUMX 小時。

可以看出，科基100種不同摻雜厚度比的三層複合聚酰亞胺薄膜的耐電暈性均大於Kapton 0.42 CR。隨著摻雜聚酰亞胺層相對厚度的增加，三層複合聚酰亞胺薄膜的耐電暈性先增大後減小，三層厚度共享d:d:d。 =1:0.42:107.3 三層複合聚酰亞胺薄膜的最長耐電暈時間為100 h，是同等條件下Kapton XNUMX CR耐電暈時間的兩倍多。

根據陷阱理論，將納米粒子引入聚合物後，材料內部會形成許多陷阱結構。這些陷阱可以捕獲電極注入的載流子。被捕獲的載流子會形成空間電荷電場，不僅可以阻礙載流子的進一步注入，還可以縮短載流子的平均自由程，使載流子的終端速度變小，減弱對有機/無機相界面結構。其次是摻雜聚酰亞胺層厚度份額的增加，相當於引入了更多的陷阱結構，增加了對載流子轉移的阻礙作用，提高了三層複合聚酰亞胺薄膜的耐電暈性。

另一方面，從上面對擊穿場強的分析可以看出，隨著摻雜聚酰亞胺層的厚度份額的增加，每層的分佈場強增加。因此，隨著摻雜聚酰亞胺層的厚度份額增加，載流子進入數據後，由於電場的加速作用獲得的能量越大，載流子對數據的破壞作用越大，載流子進入數據後，還可以在碰撞過程中傳遞能量，產生熱能，破壞數據內部的化學結構，加速數據的老化和擊穿，降低耐電暈性。

基於以上兩個原因，三層複合聚酰亞胺薄膜的耐電暈時間隨著摻雜聚酰亞胺層相對厚度的增加而先增加後減小。應適當選擇厚度比例，使擊穿功能和抗電暈功能得到適當提高。